新一代便攜式泛用型取樣式超聲相控陣
(Sampling Phased Array)檢測系統
A1550是一款輕便、并且易操作的新一代相控陣超聲檢測設備。具有檢測速度快、操作方便，同時能夠準確檢測出缺陷，此系統基于全數字聚焦原理與合成孔徑聚焦技術，具有高分辨的顯示斷層圖像，缺陷形貌無改變、位置和大小可量化分析的特點。
這是一款輕便、操作簡單的相控陣超聲檢測設備。不僅檢測速度快、操作方便同時能夠準確檢測出缺陷，此系統是基于取樣式(Sampling)或稱數位式(Digital)超聲相控陣(Sampling Phased Array)原理與合成孔徑聚焦技術(SAFT)的相控陣檢測系統，具有高分辨的層析成像技術來顯示被測物內部結構，因此可以對缺陷進行量化分析。
系統特點
● 能以數字聚焦快速的二維掃描檢測區域和能實時觀測不同深度截面剖視圖的超聲圖像
● 設備體積輕巧，操作簡單
● 大屏幕彩色顯示截面剖視圖、坐標和超聲幅值
● 操作及界面友善，用戶接口上采用簡單直觀的“熱鍵”，按鍵說明快速進入主菜單功能設置和“操作啟動”按鍵實現快速進入操作，也易于操作
● 可快速更換電池
● 獨立的內存供電
● 可通過USB接口鏈接個人計算機
產品特點
系統成像功能采用“數字聚焦矩陣”（Digital Focus Array?）技術原理。探頭上的每一個通道依次序進行一發多收，通過合成孔徑聚焦技術將256*256像素上的每一個點都自動對焦，并且保存的每個點都有完整的136個A掃數據。從而得到一個清晰并且穩定的圖像。缺陷的大小、位置、方向和形貌均無形變。從而增加了檢測效率，并且降低了使用門檻（懂A掃的人員皆可使用）。
產品優勢
● 采用“數字聚焦矩陣”技術，提高檢測的靈敏度和分辨率
● 缺陷的位置、大小、方向和形貌幾乎無形變
● 操作簡易并且直觀，一般人員經4小時培訓即可使用
● 不同超聲模式應用：橫波模式（適用于焊縫檢測）
縱波模式（適用于母材檢測）
● 可以對缺陷的實際尺寸進行量化測量
● 系統具有“超聲斷層成像”(剖面視圖）功能，同時兼具超聲探傷A掃描與C掃描功能
- 便攜式SPA系統是一種手動超聲層析檢測系統，可對被測物內部結構進行截面剖視高分辨成像顯示。檢測軟件對被測物內部的真實幾何形狀列入計算來重構超聲成像，這個功能相對于傳統超聲探傷設備能達到簡化了對超聲檢測結果的分析工作。
- 系統探頭采用特殊的間距式相控陣排布，使相控陣探頭與傳統超聲探頭尺寸大小類似。而以數字聲場控制技術和快速的大面積的成像技術，可以取代了很多使用傳統超聲探頭所做的檢測。
- SPA系統的層析成像功能采用“數字聚焦矩陣”（Digital Focus Array?）技術原理，這項技術可以通過對探頭相控陣上每一個相控陣單元的方向性訊號模式，而能實現超聲場對于被測斷層上的每一點皆進行數字聚焦。此技術因此不僅加快檢測速度，而且具有較高的空間分辨率，和提高了檢測的靈敏度。
- SPA系統的層析成像技術更可以透過方便的檢測成像紀錄，而能對金屬、塑料和復合材料進行高檢測效率與快速的缺陷檢測。
系統特點(Special Features)
- 能以數字聚焦快速的二維掃描檢測區域和能實時觀測不同深度截面剖視圖的超聲圖像；
- 設備體積輕巧，操作簡單；
- 大屏幕彩色顯示截面剖視圖、坐標和超聲幅值；
- 操作極友善，用戶接口上采用簡單直觀的“hot‐key”（熱鍵）按鍵說明快速進入主菜單功能設置和“initiation of the operator”（操作啟動）按鍵實現快速進入操作，也易于操作；
- 可快速更換電池；
- 獨立的內存供電；
- 以USB接口鏈接個人計算機。
探頭類型(Types of Transducer Array)
針對不同的檢測應用，設計出不同間距的相控陣探頭與系統搭配，兩種基本常用的相控陣探頭配置如下：
1、相控陣縱波探頭：16 個單元(element)，中心頻率：4MHz，角度范圍：±50°
應用領域：金屬和塑料材料的檢測
2、相控陣橫波探頭：16 個單元(element)，中心頻率：4MHz，角度范圍：35°-85°
應用領域：焊縫的超聲檢測（包括奧氏體不銹鋼），這個探頭的不同之處在于它不需要契塊就能產生橫波。
產品優勢(Advantages)
- 清楚與高分辨率的呈現倍側分區圖像
- 不同超聲模式應用： 橫波模式（適用于焊縫檢測） 縱波模式（適用于母材檢測）
- 采用“數字聚焦矩陣”技術提高檢測的靈敏度和分辨率；
- 可以對缺陷的實際尺寸進行量化測量；
- 高效率與快速的檢測；
- 系統具有采用“超聲層析成像”(截面剖視圖）的功能，也具有傳統超聲探傷A掃功能；
功能特點(Functional features)
- 在截面剖視圖上的每一點都可以顯示測量的回波信號幅值高度和對應坐標；
- 可以自由調整對應于探頭的超聲圖像的顯示區域和大小尺度；
- 只需要輸入被測物的厚度就可以自動計算考慮被測物的幾何形狀影響；
- 采用兩個可自由參數調整的二維缺陷門限(gate)；
- 可快速調整層析圖像對比；
- 圖像顏色/亮度比可選；
- 可以對儀器檢測參數儲存和選擇加載；
- 可以對檢測圖像儲存；
- 可以將檢測結果數據傳入計算機做進一步使用。
操作模式(Operating Modes) - 設置模式 (Set‐Up Mode)
這種模式用來設置設備檢測參數，記錄和加載檢測參數。 - 斷層成像模式(Tomograph Mode)
這種模式可以對相控陣探頭進行超聲數據采集，并且對數據進行截面剖析圖的實時觀測。在以層析模式顯示被測構件的同時，屏幕上還顯示相關測量參數值，比如缺陷門限、光標、位置坐標和幅值等。
發現于截面剖析視圖中的呈現的異常后，在經過對真實樣塊缺陷大小做靈敏度校正后，系統還可以根據截面剖析視圖的超聲數據進行的異常處大小的量化評估。 - 探傷模式(Flaw Detector Mode)
在這種模式下，設備的操作可以和傳統的超聲探傷儀一樣，可以采用標準直束探頭和斜束探頭，超聲信號以A 掃描的形式在屏幕上顯示，在數據處理過程中，SPA系統同樣具有所有現代數字超聲探傷的功能（內置DGS曲線、距離振幅曲線DAC、缺陷門限(gate)、各種形狀的超聲脈沖等）。在這種模式中，SPA系統結合了兩種生設備的功能：工業的超聲層析成像系統和傳統常規超聲探傷系統，使其在超聲檢測中成為了可靠、有效和應用廣泛的無損檢測工具。雖然這是一快速的手動檢測設備，但是它同樣可以用于機械化和自動化檢測中。SPA 系統也可以根據客戶需求定制客制化功能，以達到特殊的檢測需求。
| 技術規格表 | |
| 項目 | 參數 |
| 通道數 | 16 |
| 超聲層析圖像畫素 | 256 x 256 |
| 截面剖析視圖分辨率（mm） | 0.1‐2.0 |
| 操作頻率（MHz） | 1.0; 1.25; 1.5; 1.8; 2.0; 2.25; 2.5; 3.0; 3.5; 4.0; 5.0; 6.0; 7.5; 8.0; 10.0 |
| 聲速范圍（m/s） | 1,000‐9 ,999 |
| 輸入放大器可調范圍（dB） | 0‐80 |
| 輸入放大器調整增量（dB） | 1；6；10 |
| 屏幕材質 | TFT |
| 屏幕分辨率（畫素） | 640 x 480 |
| 供電方式 | 電池 |
| 供電額定電壓（V） | 11.2V |
| 正常環境下電池持續工作時間（小時） | ≥8 |
| 主機尺寸（mm） | 258 x 164 x 110mm |
| 重量（kg） | ≤1.9 |
| 操作溫度（℃） | ‐10 ～+55 |
全新一代超聲斷層掃描系統與傳統相控陣產品的技術對比
側面：?1.5 mm雙孔測試板對比
側面：?1.5 mm多孔，不同深度測試板對比
不同孔徑測試板對比：?5mm、?4.2mm、?3.6mm、?3mm、?2.3mm、?1.8mm
重疊多孔對比測試：?0.5mm
側面：三孔和裂紋對比測試 ?1.5mm，裂縫高度10mm測試板
